原位（SEM，TEM）微觀力學(xué)測(cè)試儀器是一種結(jié)合了精密力學(xué)加載與實(shí)時(shí)微觀觀測(cè)功能的材料測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于金屬、復(fù)合材料、薄膜、生物材料等領(lǐng)域的力學(xué)性能研究。

原位（SEM，TEM）微觀力學(xué)測(cè)試儀器技術(shù)參數(shù)：

1.  產(chǎn)品規(guī)格：   HY-YW-00520

2． 精度等級(jí)：   0.5級(jí)

3． 額定負(fù)荷：2.5N 5N 10N 20N 50N 100N 200N    500N

4． 有效測(cè)力范圍：0.1/100-100;

5． 試驗(yàn)力分辨率，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。

6.  位移測(cè)量范圍：0-150mm；

7.  加載頻率：0-1Hz；

8. 位移精度：0.1μm；

9. 示值相對(duì)誤差/測(cè)量精度：顯示值的±0.2%（在有效測(cè)力范圍內(nèi)）

10.試驗(yàn)速率調(diào)節(jié)范圍：0.1μm

11． 試驗(yàn)速度:：0.001~100mm/min(任意調(diào))

12．電源功率： 750W

13．主機(jī)重量： 30kg

14. 電源電壓:  220V（單相）

15.體積：450*250*120mm

16.增加附件：

A．高低溫環(huán)境箱一個(gè)（溫控范圍：-70~RT，RT~200℃）

B.水浴槽一個(gè).

C.非接觸式視頻引伸計(jì)一只.

D.單軸拉伸夾具一套

E.單軸壓縮夾具一套