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臺式硅酸根分析儀/數(shù)顯硅酸根分析儀 型號XN84GXF-215C 庫號D183834
2025/09/02 10:20:24
臺式硅酸根分析儀/數(shù)顯硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
庫號:D183834
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時) : ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時) : ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時) : ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時) : ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89
參數(shù)
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本≤±2.5%FS
重復(fù)性≤±0.5%FS
短期漂移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
長期漂移(24小時) : ≤±2.5%FS
化學(xué)方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89